主要特征：
※ 有效的DWDM测试：FTB-5240光谱分析仪具有出色的光反射率（ORR）、分辨率带宽、波长范围和动态范围，从而保证其灵活性和功效。FTB-5240B光谱分析仪拥有更为突出的ORR和高分辨率，已经为下一代的超密集波分复用装置做好了准备。 ※ 简单的操作：EXFO的OSA光谱分析仪独有的基于Windows2000界面，单键操作更方便。通过简易、直观的触摸屏完成自动功能的访问。图形用户界面通过菜单和功能键提供简单的访问操作。 ※ 便携耐用：模块被固定在坚固、轻便的机壳内，并且装有对FTB-400综合测试系统起缓冲作用的橡胶垫，所以EXFO的光谱分析仪能够承受现场的撞击或是从实验室工作台上摔落的碰撞。 ※ 一流的光反射率选件：新一代的FTB-5240B选件拥有上佳的ORR，从而可以提供非匹配的精确的光信噪比测试：0.1nm处达到40dBc、0.2nm处达到50dBc、0.4nm处达到55dbc。 ※ 内部校准：新一代的FTB-5240B装有内部参考光源来维持在C-和L-波段的波长精度为±30pm。 ※ 外部校准：在测试前，使用外部光源对您的OSA重新校准可以在C-和L-波段上获得±15pm的精度。
性能指标：
FTB-5240 FTB-5240B 光谱测试 波长范围（nm） 1250~1650 1250~1650 分辨率带宽FWHM2。3（nm） 0.065 0.033 波长精度3。8（nm） ±0.05 ±0.0154 ±0.03 ±0.0154 波长重复性5（nm） ±0.003 ±0.003 波长线性度3（nm） ±0.01 ±0.01 幅值测试 动态范围3（dBm） +186~-757 +186~-757 功率精度9（dB） ±0.4 ±0.4 扫描时间（s） <1.5（35nm扫描，完全分辨率、多峰值分析） 光回损（dB） >35 >35